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ATE是Automatic Test Equipment （自动化测试设备）的英文缩写，是一种通过计算机控制进行器件、 电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。 ATE在60年代早期始于快捷半导体（Fairchild ）。那时Fairchild 生产门电路器件（如14管脚双 列直插与非门IC）和简单的模拟集成电路器件（如 试是一个很大的问题。Fairchild 6管脚双列直插运算放大器）。当时对于器件量产测 5000C用于简单模拟器件测试， 开发了计算机控制的测试设备，如 Sentry 200用于简单门电路器件测试。两种机器都是由Fairchild 自主开发的计算机 FST2进行控制。FST2 是一种简单的24位，10MHz计算机。70年代早期，器件开发由小规模集成电路过渡到中规模集成电路， 又于80年代早期从大规模集成电路过渡到超大规模集成电路。对于器件制造商来说，这时计算机控制的 测试系统已经成为主要的测试设备。 测试系统用于数字器件测试。 Fairchild 开发了 Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8 80年代中期，门阵列器件开发成功，测试方面要求达到 256管脚，速度高 于40MHz 针对这一需求，Fairchild 试图开发Sentry 50，但是失败了。 Fairchild 将其ATE部门卖给 斯伦贝谢，成为斯伦贝谢测试系统公司。 Fairchild 将测试系统卖给斯伦贝谢以后，许多专家离开了 Fairchild 加入Genrad,成立了 Genrad 西海岸系统公司。GR16和GR18数字测试系统由这里诞生了。这些新型的测试系统每个管脚有独立的测 试资源，管脚数最多达 144。不久这些工程师离开 Ganrad成立了 Trillium 之后这些工程师又离开了 LTX，他们中的一些加入了科利登 测试系统，并将其卖给 LTX。 （Credenee），其它人加入了其他的 ATE公司。 90年代早期In tel开 AT巳多媒体器件的出 SoC测试系统应运而 同一时期，泰瑞达的自动化测试设备在模拟测试和存储器测试方面占据统治地位。 发成功高速、高管脚数的单片处理器单元（ MPU，随之而来的是高速高管脚数的 现使ATE变得更复杂，需要同时具有数字电路、 生。模拟电路和存储器电路的测试能力， 目前器件速度已经达到 系统级芯片测试的需求。 1.6GHz,管脚数达到1024,所有的电路都集成到单个芯片。因此出现了真正 ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多个电源组成。 这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚。 ATE可分为以下几种类型： *数字测试系统一一 共享资源测试系统，每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集 SC312和Quartet 。 成电路的逻辑功能。如科利登的 *线性器件测试系统一一用来测试线性集成电路的测试系统。 *模拟测试系统一一用来特性化测试集成电路的模拟功能。如科利登的 ASL系列。 *存储器测试系统 -DRAM测试系统，闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯 片。如科利登的 Perso nal Kalos 和 Kalos 系列，Agile nt 的 Versatest 系列，Adva ntest 的 T5593。 *板测试系统 -板测试是用来测试整块印制电路板，而不是针对单个集成电路。如泰瑞达的 1800。 *混合信号测试系统一一这种类型的系统资源用来测试集成电路的模拟及数字功能。 如科利登的 Quartet 系列。 *RF测试系统一一用来测试射频集成电路的测试。如科利登的 ASL 3000RF和SZ-Falcon。 *SOC测试系统一一通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统，用来测试超大规模集成电路 (VLSI)芯片；并且这种超大规模集成电路( VLSI )芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。如科 利登的 Octet 系列，Agile nt 的 93000 系列，Adva ntest 的 T6673。 ATE开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统( 10 MHz, 64 pins )到中等数量管脚、中速测试 系统(40 MHz, 256 pins )到高管脚数、高速(超过 100 MHz, 1024 pins )并最终过渡到现在的 SoC测 本文来源：https://www.dywdw.cn/589f74e8ca50ad02de80d4d8d15abe23482f03b1.html
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2024-01-13
